湖州高频噪声模拟器 高频噪声模拟器 INS-4040 保证原包装进口

NOISEKEN高频噪声模拟器INS-S220解决市场上出现的问题：高频率、能量可调试验脉冲
脉冲宽度小的50ns ～100ns程度的高频噪声，能量是比较小，但是短时间内2次的波形上升以及下降造成的电压变动，急速变动时发生的电磁场的耦合可 以影响电子回路。 另外，脉冲宽度宽的800ns ～ 1000ns 的高频噪声，因为能量比较大，能容易地给回路施加很大的电压变动。 高频噪声测试与国际标准IEC61000-4-4群脉冲测试相比较,因为上升时间快,频率成分高是它的特征。这样对EUT进行施加干扰时, 更容易侵入电路，更容 易影响电子回路。 还有,由于高频噪声的脉冲宽度不同，包含的频谱的成分及强度也不同,建议用不用脉冲宽度的条件进行多种类的测试。

供应日本NOISEKEN
1 静电放电模拟试验器
ESS-S3011>-30R
ESS-B3011>-30R
ESS-801/ESS-801GL试验环境
2 半导体器件静电放电模拟试验器
ESS-6002/6008
3 高频噪声模拟试验器
INS-4020/4040
INS-AX2系列
4 电快速瞬变脉冲群模拟试验器
FNS-AX3A16B/B50B
5 雷击浪涌模拟试验器
LSS-6230
LSS-F02系列（IEC标准）
LSS-720B（JEC标准）
6 电源电压变动模拟试验器
VDS-2002
7 衰减振荡波模拟试验器
SWCS-931SD
SWCS-932/S4
8 PCB板电磁波解析系统/三坐标辐射测试系统
EPS-3007 PCB板电磁波干扰源探查系统
EPS-6000
EPS-01A三坐标辐射测试系统
EPS-240
9 高频接触&近场电磁抗扰度测试天线
NHHA&NTS
INS-4020 4040 NOISEKEN高频噪声模拟试验器

再现性向上 能进行定量的测试
通过从以前的继电器方式变更为半导体继电器方式，提高试验脉冲波 形的稳定性,能实现比以前的定量性,再现性更好的测试。还有, 继电器 劣化时产生的输出波形不良的情况也会消失。
误动作发生率向上 能缩短测试所花的时间
测试脉冲的重复周期比旧型号快,所以使被测物的误动作发生率变高,可以 期待测试时间的缩短。
设定的简单化 能缩短设定所花的时间
旧型号的脉冲宽度设定需要手动地用的同轴电缆繁琐的切换,但是新 型号只需要操作按钮就能进行设定,缩短了设定的时间以及减少了连线错 误的情况。
连接的简略化 能缩短连接所花的时间
EUT的连接采用简单的输出面板的方式。 使用各个国家的插座形状的输出面板,能非常简单的进行连接。
成本的削减 减少了消耗品的交换
由原来的继电器方式（消耗品）改成半导体继电器方式。 另外,因为不使用脉冲宽度设定的同轴线（消耗品）,也降低了消耗品更换的成本
容易对策噪声 能够判定误动作发生的场所
我们准备了从电源线、通信线、线束和外壳到基板各种各样的干扰施加用 选件,更能容易地找出误动作发生的场所。

INS-4020高频噪声模拟器特性:
1、实现了试验的自动化、效率化的高性能噪声模拟试验器
2、根据输出电压、EUT电源容量准备了丰富的机型。
3、8种脉冲宽度可选,无脉冲宽度设定的繁琐。
4、通过标准附件的PC软件,可简单地进行多个试验条件的设定。
5、在主机控制面板上也可进行程序设定。( 有内存限制)
6、试验器内部可进行差模/共模和注入相位的切换。
7、对于使用线路耦台、耦合夹,可根据终端阻抗进行脉冲电压的显示补偿
8、T FAIL INPUT端口,在自动试验中的EUT误动作时,能控制试验停止。
9、通过输出面板,可以直接连接EUT的AC插头。
10、通过各种探头、耦台夹、适配器， 可进行各种各样的试验 , INS-4020